Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
цифровое устройство, модуль, проверка, признак оптимальности, упорядоченная последовательность, тест-программа
Автор статьи:
Ученая степень:
докт. техн. наук, профессор, и. о. заведующего кафедрой Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»
Местоположение:
г. Москва
Автор статьи:
Ученая степень:
канд. техн. наук, доцент НИЯУ МИФИ
Автор статьи:
Ученая степень:
докт. техн. наук, профессор НИЯУ МИФИ
Автор статьи:
Ученая степень:
канд. техн. наук, доцент кафедры Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»
Местоположение:
г. Москва