8 (495) 987 43 74 доб. 3304 Прием заявок на рассмотрение статей E-mail: evlasova@synergy.ru

Мы в соцсетях -              
Рус   |   Eng

Авторы

Шувалов В. Б.

Ученая степень
канд. техн. наук, доцент кафедры Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»
E-mail
vbshuvalov@yandex.ru
Местоположение
г. Москва
Статьи автора

Об одном способе анализа структуры многомерного четкого логического регулятора

Рассматривается способ анализа структуры многомерного четкого логического регулятора для выявления повторяющих, противоречащих и дополняющих друг друга продукционных правил. Описывается программное обеспечение, позволяющее осуществить анализ данным способом.
Читать дальше...

Сбор и обработка исторических данных в автоматизированных информационных системах

В статье рассматриваются вопросы накопления исторических данных в автоматизированной системе, а также их обработки и анализа для задач планирования развития и сопровождения системы. Представлен метод сбора исторических данных, обеспечивающий возможность накапливать детализированную информацию обо всех изменениях хранимой информации, описаны основные достоинства и недостатки данного метода. Авторы приводят некоторые способы обработки и анализа собираемых данных, применимые на разных стадиях создания системы, а также в процессе ее эксплуатациии сопровождения.

Читать дальше...

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Читать дальше...

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Читать дальше...