Авторы

< Вернуться к списку авторов

Березкин Е. Ф.

Ученая степень	канд. техн. наук, доцент НИЯУ МИФИ
E-mail	efberezkin@mephi.ru
Статьи автора	Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок. Читать дальше... Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок. Читать дальше...

Ученая степень

канд. техн. наук, доцент НИЯУ МИФИ

E-mail

efberezkin@mephi.ru

Статьи автора

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Найти статью

Главный редактор

Дли Максим Иосифович

Редакционный совет

Посмотреть подробнее

Авторы

Березкин Е. Ф.

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Главный редактор

Редакционный совет

Партнеры