8 (495) 987 43 74
Мы в соцсетях -              
Рус   |   Eng

Авторы

Атовмян И. О.

Ученая степень
докт. техн. наук, профессор, и. о. заведующего кафедрой Управляющих интеллектуальных систем Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ»
E-mail
IOAtovmyan@mephi.ru
Местоположение
г. Москва
Статьи автора

Опыт разработки и тестирования встраиваемой микроядерной операционной системы

Процесс проникновения во все сферы жизни современного человека различных микроэлектронных устройств можно еще более ускорить за счет рациональных подходов к разработке их программного обеспечения.

Читать дальше...

Инструментарий лабораторного практикума по изучению кластерных систем

Изложены цели и концепции лабораторного практикума в виде открытой системы для изучения возможностей и особенностей функционирования кластерных систем, позволяющего решать задачи выбора рациональной организации вычислительного процесса с учетом структурной организации, технических параметров кластерных систем и возможного взаимодействия решаемых задач и их характеристик. Для выбора рационального построения системы применяются имитационные модели в системе GPSS World.
Читать дальше...

Сбор и обработка исторических данных в автоматизированных информационных системах

В статье рассматриваются вопросы накопления исторических данных в автоматизированной системе, а также их обработки и анализа для задач планирования развития и сопровождения системы. Представлен метод сбора исторических данных, обеспечивающий возможность накапливать детализированную информацию обо всех изменениях хранимой информации, описаны основные достоинства и недостатки данного метода. Авторы приводят некоторые способы обработки и анализа собираемых данных, применимые на разных стадиях создания системы, а также в процессе ее эксплуатациии сопровождения.

Читать дальше...

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Читать дальше...